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菲希爾X射線測厚儀XDL210信息

更新時間:2024-09-23   點擊次數:1071次

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

無錫駿展儀器供應XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有:

• 測量大規模生產的電鍍部件

• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

• 全自動測量,如測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液

XDL 240 有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。


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