菲希爾X射線測厚儀FISCHER XULM240測量原理：采用 X 射線熒光法（XRF），通過 X 射線激發樣品表面鍍層，分析熒光信號強度反推鍍層厚度與元素成分，實現非破壞性檢測。

關鍵組件：配備帶玻璃窗口或鈹窗口的鎢靶微聚焦 X 射線管（50kV/50W），比例計數器探測器，4 個自動切換準直器（0.05×0.05mm 至 ?0.3mm）和 3 個自動切換基本濾片，還內置 500 萬像素彩色視頻顯微鏡（38x-184x 變焦）。

應用領域：適用于線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等鍍層測量，電子行業接插件和觸點的鍍層測量，裝飾性鍍層 Cr/Ni/Cu/ABS 測量，電鍍鍍層如螺栓和螺母上的防腐蝕保護層 Zn/Fe、ZnNi/Fe 測量，以及珠寶和鐘表工業、電鍍液中金屬成分含量測定等領域。