菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN215核心測量原理

能量色散 X 射線熒光（EDXRF），搭載菲希爾FP 基本參數法，無需配套標準片即可直接測鍍層厚度與合金成分；樣品無損傷，適合高價值首飾、貴金屬件檢測。

硬件關鍵參數

1. X 射線發射系統

X 光管：鎢靶熱穩定 X 射線管，鈹窗口

高壓三檔可調：30kV / 40kV / 50kV

標配準直器：φ1mm；可選配 φ2mm

測量光斑：孔徑 + 200μm 補償，測量距離 0–25mm

DCM 距離補償，高低落差樣品無需頻繁校準

2. 探測器與分析能力

探測器：半導體制冷 Si-PIN 探測器

能量分辨率：Mn-Kα ≤180eV

可測元素范圍：Cl (17) ~ U (92)，單次同步分析最多 24 種元素

金層重復性：≤1‰（60s 測量時長）

樣品最大高度：最高 170mm，大件首飾、紀念幣均可放入

3. 機身結構

臺式上掀式防護門，自下而上發射 X 射線（樣品放置在透明載臺上方）

內置高清彩色 CCD 視頻顯微鏡，帶十字刻度標尺、可調 LED 光源，精準定位微小測點

手動放置樣品，可選配手動 XY 移動平臺，微小零件多點測量

全封閉輻射防護，安全合規，可車間 / 門店使用