菲希爾 XDL 230 是一款能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）測厚儀，主要用于無損測量鍍層厚度和材料分析。它適合質量控制、來料檢驗和生產流程監控等場景，尤其擅長處理小型零件和量產部件。

核心技術與特點

測量原理：采用能量色散型 X 射線熒光法（EDXRF），屬于無損檢測。

元素范圍：可分析從鈦（Ti，22）到鈾（U，92）的元素。選配 WinFTM SUPER 軟件后，最多可同時測定 24 種元素。

核心優勢：具備 FISCHER 基本參數法（FP），無需標準片即可分析固體、液體及鍍層系統。采用比例計數器，計數率高，測量精度高且長期穩定性好，能減少重新校準的頻率。