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| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,石油,能源,電子/電池 |
菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達驅動的X/Y工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程Z軸升降系統。
高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的調整。
所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能*而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。
XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準，型式許可符合德國“Deutsche Rntgenverordnung-RV"法規規定。
為每次測量創造理想的激發條件，儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統有著出色的性和良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器，節省時間和精力。
由于采用了基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。
菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數規格：
通用規格
設計用途 | 能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構， 分析合金和微量組分。 |
元素范圍 | 從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM BASIC軟件時，zui多可同時測定24種元素 |
形式設計 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
測量方向 | 從上到下 |
X射線源
X射線管 | 帶鈹窗口的微聚焦鎢管 |
高壓 | 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV |
孔徑（準直器） 標準（523-440） 可選（523-366） 可選（524-061） | 4個可切換準直器 [mm]: 0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: 0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: 0.1, 0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制 |
基本濾片 | 3種可切換的基本濾片（標準配置：鎳，鋁，無） |
測量點 | 取決于測量距離及使用的準直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的測量點大小: 光圈約 0.1 mm（選用準直器0.05x0.05 mm時） |
蘇公網安備32021402002647
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