菲希爾fischerscope x-ray xan252

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252
X射線熒光測量儀，配有進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
具有*的綜合測量能力
配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位 
典型應用領域
對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行分析
用于高校研究和工業研發領域

菲希爾fischerscope x-ray xan252

FISCHERSCOPE XDV-SDD
X射線熒光測試儀，配有可編程XY平臺和Z軸，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點
高級型號儀器，具有常見的所有功能
射線激發量的靈活性，激發量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計數率） 的信號量下也可以正常工作，而不會出現能量分辨率的降低
極低的檢測下限和測量重復度
帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
大容量便于操作的測量艙
典型應用領域
測量極薄的鍍層，例如應用于電子和半導體行業中
痕量分析，例如根據 RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
進行黃金和貴金屬分析
光伏產業
測量 NiP 鍍層的厚度和成分

xan252