菲希爾電導率測試儀Sigmascope SMP30

菲希爾電導率測試儀Sigmascope SMP30

Sigmascope SMP30的產品特性：
快速、無損地精確測量有色金屬的電導率，符合 DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 標準
適用于各種應用的電導率探頭
根據探頭，針對不同滲透深度提供不同測量頻率（范圍為 15 kHz 至 1 MHz）
針對已知曲率直徑的自動曲率補償（最小直徑低至 6 mm）
我們提供經過認證的測量標準（以 MS/m 計，%IACS），可追溯校準標準
Sigmascope SMP30的應用：
針對原材料進行電導率測試，以實現分揀與質量保證
造幣中的合金元素檢查（例如歐元硬幣的電導率）
熱處理材料的硬度與強度評估
可因溫度波動而改變的機身或類似組件的材料穩定性控制
銅合金或含銅材料中的磷含量估算
沉淀工藝跟蹤，例如銅鉻合金
合金同質性檢查
廢料分揀

X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設備。
XDV-SDD設計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅動的Z軸升降臺。當具有防護功能的測量門開啟時，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點，可以快速對準需要測量的位置。儀器內置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統，簡化了樣品放置的過程，并可對測量點位置進行精確微調。