菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

FISCHERSCOPE X-RAY菲希爾x熒光分析儀特點

采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

3種不同的探測器可選（Si-PIN二極管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）

3種可切換基本濾片

4種可切換準直器

最小測量點約為0.15mm

樣品最高高度可達14cm

可編程XY工作臺，定位精度為10µm

開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

經過認證的全面保護設備

FISCHERSCOPE X-RAY菲希爾x熒光分析儀應用

鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析

電子行業，ENIG，ENEPIG

連接器和觸點

黃金，珠寶和制表業

PCB制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量

微量元素分析

高可靠性應用的鉛（Pb）的測定（避免錫晶須）

對硬質材料涂層的分析

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。