泰勒霍普森代理粗糙度儀

泰勒霍普森代理粗糙度儀

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度儀技術指標：

Surtronic DUO量    程：200um

Surtronic DUO行    程：5mm

取樣長度：0.8mm+/-15%

參    數：Ra：0.1um-40um Ra：0.1um-199um

精    度：Ra:0.1umRz:0.1um

檢測方式：壓電式

尺    寸：125*80*38mm

重    量：200g

高精度涂層測厚儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無損測量儀,組件清潔度測試系統、關節臂三坐標測量針探針,工業電子內窺鏡,平面度測量儀、光譜儀、高度計、通用長度測量機,齒輪嚙合儀,齒輪測量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計、滲碳層厚度計、滲氮層深度無損檢測儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計、投影儀、視頻測量儀、材料萬能試驗機、莫尼粘度計、振動計等精密測量儀器。

泰勒霍普森粗糙度儀應用：

用戶友好的移動粗糙度測量裝置，用于參數Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標準粗糙度測量。